EAN 5706445710188 / EL-NR 6398958842

Probe FN3,5

-kompatibel med Surfix Basic S, Surfix S, Surfix PRO S, Surfix PRO S-CT

10.495,00 DKK
Pris inkl. moms 13.118,75 DKK

På lager Lav lagerbeholdning Snart på lager igen

Køb nu
Opret ny liste
Gem

 

PHYNIX FN3,5 er en probe med et måleområde op til 3500µm. Proben har 2 målefunktioner, henholdsvis F og N: 
Måling i F-mode, altså hvor underlaget udgøres af et magnetisk metal(jern og stål) kræver det at selve overfladebehandlingen er ikke-magnetisk, som fx. maling, lak, emalje, plastik, gummi, glas, aluminium, bly, krom, kopper, messing, zink og tin. 
Måling i N-mode, altså hvor underlaget udgøres af et ikke-magnetisk metal(fx aluminium, alu.-legeringer, kopper, messing, zink, mv.) kræver det at overfladebehandlingen er elektrisk isolerende eller ikke-ledende, som fx maling, lak, emalje, plastik, gummi, glas, keramik og anodiserede overfladebehandlinger.
Proben er designet og produceret i Tyskland, og fremstillet med målespidsen i Wolfram Carabid, et af de håreste kendte kompost metaller, som også anvendes i forbindelse med skærende værktøjer. Proberne er ligesom instrumenterne produceret i den allerhøjeste kvalitet.
Proben er kompatibel med alle instrumenter fra Phynix, som er forberedt tilslutning til eksterne prober, og som følger:
Surfix Basic, Surfix SX, samt topmodellen Surfix PRO X, som også kan anvendes til kontinuerlig målinger, og ikke "bare" punktmålinger.

Tekniske Data

  • Måleområde F
    0…3500 µm / 3,5 mm
  • N
    0…3000 µm / 3 mm
  • Nøjagt Works Cal.
    ±5 µm eller 3 %RDG (hvad størst)
  • Nøjagt Zero Cal.
    ±2 µm eller ±2 %RDG (hvad størst)
  • Nøjagt Foil Cal.
    ±2 µm eller ±1 %RDG (hvad størst)
  • Arbejdstemperatur
    0...60 °C.
  • TILGÆNGELIGHED
  • Min. areal
    Ø10 mm
  • Min. godstykkelse F
    0,5 mm
  • Min. godstykkelse N
    0,1 mm
  • Min. frihøjde
    60 mm
  • Min. radius Konveks
    5 mm
  • Min. radius Konkav
    50 mm
  • MÅL & VÆGT
  • Mål
    Ø25 x 47mm
  • Vægt
    Ca. 105 g.